会社概要

理想計測(株)は計測・解析・制御・信号伝送システム構築に必要なトータル・ソリューションをご提供いたします。
お客様の仕様に合わせた計測・解析・制御・通信システムを、使い易いソフトウェア、ハードウェア、組み込みソフト、治具と一式セットでご提供いたします。
最近は特にSiC半導体・モジュールの環境試験装置について、数多くの引き合いをいただいております。
ご相談ならびに資料は無料です。お気軽にお問い合わせください。

企業情報

会社名 理想計測株式会社
所在地 〒221-0023 神奈川県川崎市高津区子母口31番地
Tel:044-750-2888 Fax:044-777-3303 info@risohkeisoku.com
代表者 代表取締役社長 臼井 重徳  
資本金 1,000万円
株主 臼井 重徳 (100%)
設立 1996年8月2日
事業内容 パワー半導体SiC、パワーモジュール用の各種信頼性試験装置
LED寿命試験装置及び有機EL(OLED)寿命試験装置
水冷式および空冷式小型恒温槽
計測・解析・制御・信号伝送システム構築に必要なトータル・ソリューション
Dataforth社 ならびに lntelligentlnstrumentation社 正規代理店
マスコミ掲載実績 こちらをご覧ください >>
導入実績 こちらをご覧ください >>

沿革

1976~1984年 FA、OA、ラボの各種各サイズのシステムを開発設計
1984~1994年 日本バー・ブラウン(株)で16ビットA/Dコンバータを開発設計、
及びデータ収集システムの技術・マーケティング・営業を担当
1994~1996年 インテリジェント・インストルメンテーション(株)を経営
1996年 日本市場に適したPCベースの計測・解析制御システムの
開発・製造・販売のため理想計測株式会社を設立
Dataforth社 正規代理店
2001年 lntelligentlnstrumentation社 正規代理店
  有機EL(OLED)画素パラメータ試験装置、パネル検査装置開発。
2002年 マザーガラス・エージング用大電流波形電源検査装置開発。

マルチロガー開発
2003年 発光素子用小型恒温槽開発。
2004年 OLED寿命試験装置開発。水冷式小型恒温槽開発。
2005年 OLED各種検査装置。JlG開発。口一コスト恒温恒湿槽販売開始
2006年 高輝度LED寿命試験装置開発。太陽電池パラメータ試験装置開発納入
2007年 電流制御用ハイブリッドIC開発、生産開始。
2008年 1000チャンネル寿命試験装置納入
ヒートサイクル寿命試験装置開発。
2010年 経済産業省支援で電気自動車用SiC半導体用小型熱衝撃試験機を開発。

現在の新社屋に移転。
2011年 神奈川工業技術開発大賞奨励賞を受賞。パワーモュール用200A電流源開発納入。
2012年 かわさき起業家オーディションかわさき起業家賞を受賞。
パワーモジュール試験用500A大電流源装置開発納入。
高温用恒温槽HTC400開発納入。

アクセス

●電車・バス利用の場合
JR南武線 武蔵溝ノ口駅または
東急東横線・大井町線 溝の口駅より
バス停8番 東急バス「蟹ヶ谷」行き
「子母口住宅前」で下車 
バス乗車時間約20分、降車後約2分

東急目黒線 元住吉駅より
バス停2番 川崎市バス「蟹ヶ谷」行き
「子母口住宅前」で下車 
バス乗車時間約18分、降車後約2分

JR南武線 武蔵新城駅より
バス停8番 東急バス「綱島」行き
「子母口住宅前」で下車 
バス乗車時間約10分、降車後約2分

●お車の場合
黒川尻手線に沿って 円融寺反対車線向い側
15メートル程上ったところ(奥に上らず黒川尻手線に沿って上がる)
窓に理想計測と貼ってあります。車1台駐車できます

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