完全空冷で超小型の

40+250ダイレクト測光

素子用小型恒温槽RK-10207P




最低温度-40℃、最高温度+250℃を新たに
実現した革新的小型恒温槽です。

従来のRK-10207P小型恒温槽(弊社製)より、更に対応温度範囲が拡張し、発光素子やIC等を過酷な温度環境まで急速冷却/加熱して、抜取試験・特性試験・寿命試験等の作業時間を大幅短縮します。ダイレクト輝度測定が必要なLCDOLEDLED等の発光表示パネルや発光素子、大型ICモジュール、LSI等を急速冷却/加熱します。




仕様:

●−40℃低温対応、+250℃高温対応で、 ICや発光素子の短時間温度試験に最適。

●制御温度範囲:V1) −40℃〜+150℃、

V2) 室温〜+250℃、他

●制御温度精度:±0.5/100℃以下、±2/

●対応素子サイズ:100x70mm又は60x60mm

●光透過型で大面積なので、従来の恒温槽と異なり、温度、電源条件等を変更して、輝度測定や、種々の特性試験を簡単に実施できます。

[寸法] テストヘッド部:170Wx190Dx200Hmm、電源・制御部:95x350x240mm

[速度] +25 -40: 10, +25dC+250: 15


アプリケーション例:


1)ミル規格高速温度試験: -40+85℃対応で素子の高速温度特性検査。

2)
LEDOLED寿命試験: 寿命試験器と組合せパネル・素子の加速寿命試験。

3)マルチ温度試験: 複数の小型恒温槽RK-10207Pのテストヘッド部をXYステージに搭載し、別々の温度に設定した複数の発光素子を同時に冷却/加熱し、個別温度での寿命試験・環境試験も可能。

この恒温槽RK-10207Pは、独自設計のペルチェ素子タイプで、冷却加熱テストヘッド+電源制御部で構成します。上図はテストヘッド部です。(制御温度範囲及び速度は、このテストヘッド単体動作時の金属テストヘッド表面のもので、測定対象を搭載時には多少異なることがあります。)温度設定はPCから行い、単体でリアルタイム温度表示し、PC上でも、温度表示/温度ログができます。

制御温度範囲や素子搭載ヘッド寸法はカスタマイズ可能です。   K70612



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